Tests simples d'intégration matérielle/logicielle directement sur le poste de travail du développeur

dSPACE présente de nouvelles applications pour la MicroLabBox II lors du salon embedded world 2025 (11-13 mars, Nuremberg) et montre comment le système de développement et de test compact peut être utilisé pour les tests Hardware-In-the-Loop (C-HIL) des contrôleurs.

Des solutions d'essai complexes en boucle fermée sont souvent utilisées pour tester les systèmes embarqués pendant leur développement. Pour cette raison, les tests HIL n'ont généralement été utilisés jusqu'à présent que dans les dernières phases du processus de développement. Avec la MicroLabBox II, dSPACE propose un système d'entrée de gamme rentable et en même temps très flexible pour les tests en boucle fermée au niveau du contrôleur (C-HIL). Outre un grand nombre d'interfaces d'E/S, le système prend également en charge les protocoles de communication automobile, offre d'excellentes performances en temps réel et permet d'intégrer des modèles de simulation de haute précision à l'aide du grand FPGA programmable par le client.

« Avec le nouveau système HIL compact, les tests d'intégration matérielle et logicielle peuvent désormais être réalisés dès les premières phases, directement sur le poste de travail du développeur »

Christian Wördehoff, Product chez dSPACE

La MicroLabBox II est idéale pour les tâches d'essai dans le domaine de l'électrification, telles que la validation des commandes des moteurs électriques, de l'électronique de puissance ou des protocoles de charge. Le système répond aux applications de test en boucle fermée dans diverses industries, de l'ingénierie automobile à l'ingénierie agricole en passant par la robotique, l'ingénierie médicale et l'automatisation industrielle.

dSPACE présente la MicroLabBox II et diverses options de fusibles de test C-HIL dans le hall 4, stand 327. Le point central de la participation de dSPACE au salon est mis sur la cohérence SIL-HIL. dSPACE présente la manière dont les logiciels pour les véhicules électriques, autonomes et définis par logiciel peuvent être testés efficacement avec des solutions Software-In-the-Loop (SIL) et Hardware-In-the-Loop (HIL) cohérentes pour la simulation et la validation.

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Source : communiqué de presse dSPACE